1、校準入射點(探頭前沿):用IIW試塊(又稱荷蘭試塊)或CSK-IA試塊測斜探頭零點,選擇將儀器聲速調節(jié)為3230m/s,顯示范圍為150mm,然后開始測試,用戶如圖將探頭放在試塊上并移動,使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到 高,用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離,此值即為該探頭的前沿值,R100mm弧圓心對應探頭上的位置即為探頭入射點。 斜探頭校準通常需要以下步驟:1、校準入射點(探頭前沿);2、校準探頭角度(K值);3、校準材料聲速;4校準探頭零點。
2、校準探頭角度(K值):用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準,如果是用K值標定的探頭,可用CSK-IA試塊校準。這兩種試塊上有角度或K值的標尺,按探頭標稱值選擇合適的標尺(右圖所示,在IIW試塊上側可校準60-76度的探頭,下側可校準74-80度的探頭,CSK-IA試塊上側可校準K2.0、K2.5、K3.0的探頭,下側可校準K1.0、K1.5的探頭。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法)。如圖放置探頭,左右移動使得反射體回波達到 高,此時入射點對應的刻度就是探頭的角度或K值。
3、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的 高反射波,調節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波,選擇閘門方式為雙閘門,調節(jié)A閘門與一次回波相交,調節(jié)B閘門與二次回波相交,調節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測量值(S)為100,此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速值。
4、校準探頭零點保持上面的測量狀態(tài),將閘門方式改為正或負,調節(jié)探頭零點使得狀態(tài)行中聲程測量值(S)再次為100,此時得到的探頭零點值即為該探頭的零點值。
斜探頭的校準方法有很多,并不完全拘泥于用標準試塊進行校準,也可以用已知深度的小孔進行校準,理論上參考反射體越小,校準的精度越高,但校準的難度也相應的加大。用小孔校準時可通過測量小孔的深度和水平位置,計算斜率來校準角度,并利用測得的深度或水平位置值校準聲速和探頭零點。
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